13810961731
當前位置：北京瑞科中儀科技有限公司>>產品展示>>反射膜厚儀
簡要描述：綜合薄膜測量軟件集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數將計算得到的光譜調整到實測光譜。
簡要描述：臺式薄膜探針反射儀二十年來，SENTECH已經成功地銷售了用于各種應用的薄膜厚度探針FTPadv。這種臺式反射儀的特點是不管在低溫或高溫下，在工業或研...
簡要描述：反射膜厚儀我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調整進行準確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和k進行重復測量，對粗糙表面進行測量以及對非...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
掃一掃訪問手機商鋪
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，包裝印刷網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
